PhenoTrait成功参展中国作物学会2019年学术年会

[db:作者] - 2019-11-30

10月28-29日,中国作物学会第十一次全国会员代表大会暨2019年学术年会在杭州召开。来自全国作物科学领域300多个单位的1800余名专家代表围绕“科技创新与扶贫攻坚”的大会主题,交流了最新学术成果,助力脱贫攻坚和乡村振兴。
 


开幕式由中国农业科学院副院长、中国工程院院士万建民主持。中国作物学会理事长、中国农业科学院原院长翟虎渠,中国工程院院士盖钧镒,中国工程院原副院长、院士刘旭,中国农业大学校长孙其信,国土资源部原副部长曹卫星,中国工程院院士喻树迅,中国工程院院士陈剑平,中国科学院院士韩斌,中国工程院院士张洪程,美国科学院院士朱健康,中国水稻研究所所长胡培松,浙江大学党委副书记邬小撑,浙江省农业科学院副院长戚行江,中国农业科学院作物科学研究所所长刘春明等领导嘉宾出席大会。浙江大学党委副书记邬小撑、中国作物学会理事长翟虎渠致辞。
 


开幕式现场还公布了“2019年度中国作物学会作物科技奖”“2019年度中国作物学会作物科技奖-创新团队奖”“2019年度中国作物学会作物科技奖-科普奖”“第三届中国作物学会青年科技奖”“2019年中国作物学会优秀博士论文奖”等获奖名单,并审议通过中国作物学会第十一届理事会和中国作物学会第一届监事会名单。
 


作为国内领先的植物表型解决方案提供商,慧诺瑞德(北京)科技有限公司(PhenoTrait)应邀出席本次大会,并在会场展示了最新的植物表型测量技术方案,包括

  • 温室高通量表型测量方案

  • 田间轨道式高通量表型测量方案

  • 田间行走时高通量表型测量方案

  • 植物冠层光合表型测量方案

  • 表型测量结果数据展示等
     


PhenoTrait展台在会场引起很大反响,众多与会人员纷纷来到展台交流,探讨合作,并达成了一些合作意向。

本次会议由中国作物学会主办、浙江大学承办,共为期三天,包含院士公开课、大会学术报告、分论坛报告、研究生论坛、墙报评比等多种形式的学术交流活动。

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